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硒-75探伤源

性状:

半衰期:119.779天

安全等级:GB4075-2009/C43515

用途:工业γ照相探伤,检查焊缝内部缺陷

主要能量:0.265MeV

半衰期:119.779天

安全使用期限:3年

安全等级:GB4075-2009/C43515

规格/参数:可拫据用户需求定制